Микроскопические методы исследования структуры материалов

Цель курса - освоение фундаментальных знаний в  исследовании реальной структуры материалов и наносистем методами просвечивающей, растровой электронной микроскопии, электронно-зондового анализа, сканирующей туннельной, атомно-силовой микроскопии и др.

Задача курса - формирование базовых знаний в области физического материаловедения и основ взаимодействия излучения с веществом;