Варианты зачисления на курс
Излагаются основы атомной силовой микроскопии (АСМ) и методы ее применения в современных научных исследованиях поверхности сегнетоэтектрических кристаллов и пленок.
Рассматривается техника АСМ: устройство, принципы работы, формирование и обработка изображений, в частности, доменной структуры.
- Преподаватель: Голицына Ольга Михайловна
Гости не имеют доступа к этому курсу. Войдите в систему.